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菲希爾XDLM-pcb200 來(lái)自德國(guó)菲希爾Fischer的XDLM-PCB測(cè)量印制電路板上鍍層厚度及成分分析的入門(mén)級(jí)、耐用型測(cè)量?jī)x。用于測(cè)量和分析印刷電路板上的涂層厚度和成分的X射線熒光測(cè)量?jī)x器。FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB儀器是專(zhuān)門(mén)用于測(cè)量和分析印刷電路板上的涂層厚度和成分的堅(jiān)固耐用的入門(mén)級(jí)儀器。 -
德國(guó)fischer膜厚儀 X射線熒光測(cè)厚儀 XULM特別適合測(cè)量細(xì)小的部件如連接器，觸點(diǎn)或線，也可以測(cè)量印刷線路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測(cè)量點(diǎn)為Ø0.25mm的準(zhǔn)直器測(cè)量，20秒的重復(fù)精度可達(dá)2.5nm。 -
DualScope MP0測(cè)厚儀- 菲希爾 DualScope MP0測(cè)厚儀，袖珍測(cè)厚儀中的產(chǎn)品，也是應(yīng)用Z廣泛，性?xún)r(jià)比較高的一款小型儀器，篤摯儀器為菲希爾正式授權(quán)的專(zhuān)業(yè)經(jīng)銷(xiāo)商，證書(shū)齊全，貨源穩(wěn)定，正規(guī)渠道拿貨 -
Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個(gè)可抽真空的大型測(cè)量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測(cè)器能夠探測(cè)低至1 keV的熒光輻射能量，從而能夠有效地測(cè)量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。 -
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Fischer XDAL237 X射線熒光測(cè)厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器的測(cè)量空間寬大，可以用于測(cè)量復(fù)雜幾何形狀的各種樣品。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)可調(diào)節(jié)的Z軸允許放置*高可達(dá)140mm高度的樣品。C型槽設(shè)計(jì)可以方便地測(cè)量諸如印刷線路板等大平面樣品。測(cè)量系統(tǒng)配有快速可編程的XY平臺(tái)，因而可以方便地按照預(yù)定程序掃描檢查樣品表面
